英诺达2025技术巡回研讨会圆满收官：北京、上海站精彩回顾

 

继成都首站成功举办后，英诺达2025年“左移赋能，功耗突围”技术巡回研讨会于7月22日、24日在北京和上海相继举行。本次巡回研讨会聚焦低功耗设计与静态验证两大核心技术领域，全面展示了英诺达自主研发的两大系列、七款核心EDA工具，并通过现场DEMO演示与深入交流，为芯片设计从业者带来了一场技术盛宴。

 
 
 
 

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在研讨会中，来自英诺达的技术团队围绕“设计左移”理念，系统介绍了如何通过先进静态验证技术实现RTL高质量代码签核，有效降低后期迭代成本。重点展示了ELINT（RTL代码检查）、ECDC（跨域检查）以及EDFTC（DFT规则检查）工具的优势，并通过实际项目案例演示了工具的应用效果。
在低功耗全流程EDA解决方案环节，英诺达详细讲解了ERPA（RTL级功耗分析）、ERPE（早期功耗优化）、EGPA（门级功耗分析）及ELPC（低功耗设计检查）等工具的应用场景与实测数据。此外，针对当前AI芯片、IoT设备等高能效场景的需求，英诺达还介绍了其在多电源域管理、动态电压调整等方面的实践，帮助工程师实现功耗最优设计。
 
 
 
在自由交流环节，与会嘉宾围绕工具使用体验、行业痛点及合作机会展开了深度交流，不少参与者表达了对英诺达和国产EDA工具未来发展的信心与期待。
至此，2025英诺达技术巡回研讨会至此圆满收官，三城累计吸引了来自芯片设计企业、科研机构及产业链上下游的数十家企业参与，反响热烈，收获一致好评。后续我们将整理本次研讨会的核心内容资料，欢迎持续关注英诺达官方微信账号获取更多信息。
 
 
 
最后，衷心感谢每一位参会者的热情投入，让我们在下一次技术交流中再相聚！
 

 

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创建时间：2025-09-17 14:22
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